基于 YOLO11 的半导体芯片表面缺陷视觉质检系统

📖01｜项目介绍

基于 YOLO11 的半导体芯片表面缺陷视觉质检系统

完整源码｜标注数据集｜PDF教学文档

该系统针对半导体封测线质检环节的痛点，采用YOLO11n模型作为检测骨干，结合Streamlit搭建可视化质检平台。系统支持单图检测、批量分析、视频流检测和摄像头实时检测四种模式，可识别字符污痕、表面划损、基材破损和引脚损坏四类典型缺陷。

该项目包含：

• 完整的项目源码
• 整套的标注数据集
• 快速上手的PDF教学文档

适用于： YOLO学习｜项目实践｜二次开发

📷 02｜运行效果图

本项目支持多种推理模式，具体效果见哔哩哔哩演示视频

https://www.bilibili.com/video/BV1nD7R6BEZz

有关本项目更详细内容请参考文章

https://blog.csdn.net/weixin_52908342/article/details/161263157

💻03｜关于我

我更希望交付一个完整的项目，而不是一份零散代码！up主长期整理和开发 YOLO、计算机视觉相关项目，将源码、数据集、训练配置和项目文档进行整合分享，希望让每一个项目都能够真正运行、学习和二次开发！

🛠️04｜售后保障

该源码、数据集项目可以完全复现B站效果！如遇非技术问题，请先自行查看文档中提供的报错速查手册修正！

若仍未解决，可联系我答疑！不想自行部署项目的，也可提前预约提供远程指导。

💬联系方式

QQ：3683025791

微信：ai1995ceo

⚠️ 购买须知

• 本项目为个人原创整理与开发，项目资料均为本人独立整理。

• 本项目属于虚拟数字产品。下单前请务必仔细阅读项目参考文档、视频及项目介绍，充分了解项目内容、运行环境及相关要求，确认符合自身需求后再下单。